ইডিএস উপাদান বিশ্লেষণ
প্রকল্পের সূচনা
এনার্জি ডিসপার্সিভ স্পেকট্রোমিট্রি (ইডিএস) একটি বিশ্লেষণ পদ্ধতি যা নমুনা বিশ্লেষণ এবং চরিত্রায়নের জন্য ব্যবহৃত হয়।এটি সাধারণত একটি স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং একটি ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপের সাথে একত্রে ব্যবহার করা হয় যা উপাদানটির মাইক্রো অঞ্চলে উপাদানগুলির প্রকার এবং সামগ্রী বিশ্লেষণ করে: নমুনার রাসায়নিক রচনা সম্পর্কে তথ্য প্রদানের জন্য ইলেকট্রন রশ্মি উপাদানটির সাথে মিথস্ক্রিয়া করার সময় উৎপন্ন বৈশিষ্ট্যযুক্ত এক্স-রে ব্যবহার করা হয়,এবং বেশিরভাগ উপাদান (Be4-PU94) গুণগত এবং আধা পরিমাণগতভাবে সনাক্ত করা যেতে পারে, এবং পৃষ্ঠের দূষণকারী বিশ্লেষণ করা যেতে পারে।

উপাদান বিশ্লেষণ পরীক্ষাগার

পরীক্ষামূলক নীতি
আধুনিক স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ এবং ট্রান্সমিশন ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপগুলিতে, শক্তি ছড়িয়ে পড়া স্পেকট্রোমিটার (ইডিএস) একটি গুরুত্বপূর্ণ আনুষাঙ্গিক।এটি প্রধান মেশিনের সাথে অপটিক্যাল সিস্টেমের একটি সেট ভাগ করে, এবং উপাদানটির আগ্রহের অংশগুলির রাসায়নিক রচনা সম্পর্কে পয়েন্ট বিশ্লেষণ, পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ এবং লাইন বিশ্লেষণ সম্পাদন করতে পারে।

ইডিএসের সুবিধা
(1) দ্রুত বিশ্লেষণের গতি এবং উচ্চ দক্ষতা।এটি একই সাথে ১১ থেকে ৯২ এর মধ্যে পারমাণবিক সংখ্যা সহ সমস্ত উপাদানের দ্রুত গুণগত এবং পরিমাণগত বিশ্লেষণ পরিচালনা করতে পারে (এমনকি সি-এর মতো অতি হালকা উপাদানগুলিও) ।, এন, ও);
(2) ভাল স্থিতিশীলতা এবং ভাল পুনরাবৃত্তিযোগ্যতা;
(৩) রুক্ষ পৃষ্ঠের উপাদান বিশ্লেষণের জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে (ফ্র্যাকচার ইত্যাদি);
(৪) উপাদান ইত্যাদিতে উপাদান বিভাজন পরিমাপ করতে পারে।

ইডিএসের কাজ করার নীতি
The probe receives characteristic X-ray signals → converts characteristic X-ray light signals into electrical pulse signals with different heights → amplifier amplifies the signals → multi-channel pulse analyzer encodes pulse signals representing X-rays of different energies (wavelengths) into different channels according to their heights → displays spectrum lines on the fluorescent screen → uses computers for qualitative and quantitative calculations.

ইডিএস এর কাঠামো
1ডিটেক্টরঃ এক্স-রে ফোটন সংকেতকে বৈদ্যুতিক পালস সংকেতগুলিতে রূপান্তর করে, এবং পালসের উচ্চতা এক্স-রে ফোটনগুলির শক্তির সমানুপাতিক।

2. এম্প্লিফায়ার: ইলেকট্রিক ইমপ্লান্স সিগন্যাল বাড়ায়।

3. মাল্টি-চ্যানেল পালস উচ্চতা বিশ্লেষকঃ পালসগুলি তাদের উচ্চতা অনুযায়ী বিভিন্ন চ্যানেলে প্রোগ্রাম করা হয়, অর্থাৎ,বিভিন্ন বৈশিষ্ট্যযুক্ত এক্স-রে তাদের শক্তি অনুযায়ী পার্থক্য করা হয়.

4সিগন্যাল প্রক্রিয়াকরণ এবং প্রদর্শন সিস্টেমঃ সনাক্তকরণ বর্ণালী, গুণগত এবং পরিমাণগত গণনা; বিশ্লেষণ ফলাফল রেকর্ডিং।

ইডিএস বিশ্লেষণ
1. গুণগত বিশ্লেষণঃ ইডিএস বর্ণালীতে পিকগুলি নমুনায় উপস্থিত উপাদানগুলিকে উপস্থাপন করে। গুণগত বিশ্লেষণ অজানা নমুনা বিশ্লেষণের প্রথম পদক্ষেপ, অর্থাৎ,এতে থাকা উপাদানগুলি সনাক্ত করা. যদি উপাদানটির ধরন সঠিকভাবে চিহ্নিত করা না যায়, তাহলে চূড়ান্ত পরিমাণগত বিশ্লেষণের সঠিকতা অর্থহীন। সাধারণত একটি নমুনার প্রধান উপাদানগুলি নির্ভরযোগ্যভাবে চিহ্নিত করা যায়,কিন্তু ছোটখাট বা অণু উপাদান নির্ধারণের জন্য, শুধুমাত্র স্পেকট্রাল লাইন হস্তক্ষেপ, বিকৃতি এবং প্রতিটি উপাদানের স্পেকট্রাল লাইন সিস্টেমের সাথে সাবধানে মোকাবিলা করে এটি সঠিক হতে পারে।গুণগত বিশ্লেষণ স্বয়ংক্রিয় গুণগত বিশ্লেষণ এবং ম্যানুয়াল গুণগত বিশ্লেষণে বিভক্তস্বয়ংক্রিয় গুণগত বিশ্লেষণ শক্তি অবস্থান অনুযায়ী শিখর অবস্থান নির্ধারণ করে।স্পেকট্রামের প্রতিটি শীর্ষ অবস্থানে সংশ্লিষ্ট উপাদান প্রতীক প্রদর্শন করতে "অপারেশন / গুণগত বিশ্লেষণ" বোতামটি ক্লিক করুনস্বয়ংক্রিয় গুণগত বিশ্লেষণ দ্রুত স্বীকৃতি গতি আছে, কিন্তু বর্ণালী শিখর ওভারল্যাপের গুরুতর হস্তক্ষেপের কারণে, কিছু ত্রুটি ঘটবে।

2. পরিমাণগত বিশ্লেষণঃ পরিমাণগত বিশ্লেষণ হল এক্স-রে এর তীব্রতার মাধ্যমে নমুনা উপাদান গঠন করে বিভিন্ন উপাদানের ঘনত্ব পাওয়া। প্রকৃত পরিস্থিতি অনুযায়ী,অজানা নমুনা এবং স্ট্যান্ডার্ড নমুনার তীব্রতার অনুপাত পরিমাপের জন্য একটি পদ্ধতির সন্ধান এবং প্রস্তাব দেওয়া হয়েছে, এবং তারপর পরিমাণগত সংশোধন পরে তীব্রতা অনুপাত একটি ঘনত্ব অনুপাত রূপান্তর। সর্বাধিক ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত পরিমাণগত সংশোধন প্রযুক্তি ZAF সংশোধন।

3উপাদান পৃষ্ঠ বন্টন বিশ্লেষণঃ বেশিরভাগ ক্ষেত্রে, এক্স-রে স্পেকট্রাম এবং এই পয়েন্টের উপাদান সামগ্রী পেতে নমুনার একটি নির্দিষ্ট বিন্দুতে ইলেকট্রন রাশির শট দেওয়া হয়,যাকে বলা হয় পয়েন্ট অ্যানালিসিস পদ্ধতিআধুনিক নতুন এসইএম-এ, নমুনার একটি নির্দিষ্ট এলাকার বিভিন্ন উপাদান বন্টনের বেশিরভাগ অবস্থা পাওয়া যায়, অর্থাৎঃ একটি স্ক্যানিং পর্যবেক্ষণ ডিভাইস ব্যবহার করে,নমুনার উপর ইলেকট্রন বিম স্ক্যান করা হয়, এবং তার বৈশিষ্ট্যযুক্ত এক্স-রে এর তীব্রতা পরিমাপ করা হয়,যাতে এই তীব্রতা অনুরূপ উজ্জ্বলতা পরিবর্তন স্ক্যানিং সংকেত সঙ্গে সিঙ্ক্রোনাইজ করা হয় এবং ক্যাথোড রে টিউব CRT প্রদর্শিত, এবং চরিত্রগত এক্স-রে তীব্রতার দ্বি-মাত্রিক বন্টন চিত্র পাওয়া যায়। এই বিশ্লেষণ পদ্ধতি উপাদান পৃষ্ঠ বন্টন বিশ্লেষণ পদ্ধতি বলা হয়,যা উপাদানগুলির দ্বি-মাত্রিক বন্টন পরিমাপের জন্য একটি খুব সুবিধাজনক পদ্ধতি.